هفته نامه اطلاع رسانی اختراعات منتشر شده در سازمان جهانی مالکیت فکری
invbazaar.com

سالهفتهIDTitleApplNoIPCApplicantSubgroupزیر گروهرشته شرحDescription
202604WO/2026/016563LEVITATION GAP MEASUREMENT METHOD AND APPARATUS, AND DEVICE AND MEDIUMCN2025/089723G01B 7/14CRRC QINGDAO SIFANG CO., LTD.PHYSICSفیزیکابزارها
202604WO/2026/017321APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING WAFERSEP2025/066047G01B 9/02015PRECITEC OPTRONIK GMBHPHYSICSفیزیکابزارها
202604WO/2026/017325METHOD AND DEVICE FOR DISTANCE AND THICKNESS MEASUREMENTEP2025/066324G01B 9/02091PRECITEC OPTRONIK GMBHPHYSICSفیزیکابزارها
202604WO/2026/017375METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING METRIC DATA OF ONE OR MORE FEATURES OF AN OBJECT, AND COMPUTER PROGRAMEP2025/067896G01B 11/03CARL ZEISS GOM METROLOGY GMBHPHYSICSفیزیکابزارها
202604WO/2026/017974LASER ENCODER DEVICEGB2025/051534G01B 5/00RENISHAW PLCPHYSICSفیزیکابزارها
202604WO/2026/017976LASER ENCODER SYSTEMGB2025/051536G01B 9/02055RENISHAW PLCPHYSICSفیزیکابزارها
202604WO/2026/018030DEFORMATION AND CONFIGURATION SENSING USING A MAGNETOINDUCTIVE OF ELECTROINDUCTIVE WAVEGUIDEGB2025/051614G01B 15/04OXFORD UNIVERSITY INNOVATION LIMITEDPHYSICSفیزیکابزارها
202604WO/2026/018142METHOD FOR INSPECTING PANELS AND A DEVICE USED THEREFORIB2025/057106G01B 11/245UNILIN, BVPHYSICSفیزیکابزارها
202604WO/2026/018408IMAGE PROCESSING SYSTEM, IMAGE PROCESSING METHOD, AND DISPLAY DEVICEJP2024/025924G01B 15/04HITACHI HIGH-TECH CORPORATIONPHYSICSفیزیکابزارها
202604WO/2026/019485INDUCTIVE SENSOR INTERFACE FOR ON-WAFER PLATING THICKNESS MEASUREMENTSUS2025/030833G01B 7/06APPLIED MATERIALS, INC.PHYSICSفیزیکابزارها
202604WO/2026/019770SIGNAL MIXING IN OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY FOR USE IN MATERIAL PROCESSINGUS2025/037662G01B 9/02091IPG PHOTONICS CORPORATIONPHYSICSفیزیکابزارها
202604WO/2026/019816MEASURING WALL THICKNESS USING A MULTI-ELEMENT ULTRASONIC TRANSDUCERUS2025/037737G01B 17/02SAUDI ARABIAN OIL COMPANYPHYSICSفیزیکابزارها